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国内DFN系列测试分选设备首台套
时间:2023-01-31 15:48:07 人气:

经过不懈努力我司于2023年1月31日出台转塔式测试分选编带机,用于集成电路芯片外观检测、字符检测、分选、包装等,应用于半导体后道封装测试领域,可有效保证集成电路芯片产品质量,提高集成电路芯片生产效率。除传统性能数据已达到国内顶尖水外,我司还拥有以下国内尚未拥有的关键技术 1.通过电机力矩自动校准吸嘴高度的功能 ;2.SECSGEM通讯功能。

适合封装形式:CSP/DFN/QFN;UPH (测试30ms)≥30000/H;掉料率≤0.01%;MTBA>1h;具有AHC/FCF/MRA/ABR功能;模组更换调整时间<4h




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