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转塔式六面外观检查机

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产品简介

六面外观检查机用于集成电路芯片外观缺陷检查，通过转塔式的运动形似，将器件各个面通过工业CCD进行取图分析，最终根据判定结果进行器件分类。

晶振系列六面外观检查机可适应石英晶振行业全系列产品，用于检查器件六个表面的外观缺陷及复杂缺陷。

型号：HXWG-2520

尺寸：1200*1030*1800

生产效率：≥8000pcs/H

性能指标

UPH: 8000pcs/h
空跑UPH: 25k~30k
MTBA>120min
MTBF>168H
检测漏检率＜0.4%
人员配置3~5台/人
重量：700-800 kg
占地面积：1200mm*1030mm

特色功能

隐裂检测能力：具有特色的隐裂检测能力。区别于常规缺陷的检测，隐裂检测对光源的选择及视觉系统的学习能力要求更高。
多方向曝光技术：为适应难度较高的缺陷类型，特开发了多方向快速依次曝光拍照，最终合成各方向的图像进行分析的技术。

软件功能

运动控制基于上位机开发
设备支持GPIB/TTL/RS232通讯
设备具有SECSGEM通讯功能
图像具备深度学习功能，通过生成过程中的不断学习升级提高准确率。
具备吸嘴自动校高功能。
操作权限等级管控。

模组系统

上料系统
定位纠偏系统
侧面检测系统
正面检测系统
底面检测系统
分选系统

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